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當(dāng)前位置:首頁技術(shù)文章產(chǎn)品推薦 | 從物理極限到數(shù)字自由:澤攸光刻技術(shù)如何在小批量制造中破局

產(chǎn)品推薦 | 從物理極限到數(shù)字自由:澤攸光刻技術(shù)如何在小批量制造中破局

更新時(shí)間:2025-12-02點(diǎn)擊次數(shù):144

任何關(guān)于光刻技術(shù)的討論,都繞不開瑞利判據(jù)。這個(gè)源于天文學(xué)家瑞利勛爵的準(zhǔn)則,精準(zhǔn)地定義了投影式光刻系統(tǒng)所能實(shí)現(xiàn)的最小特征尺寸。


CD=k1 * (λ / NA)這個(gè)簡潔公式揭示了決定光刻分辨率的三大核心要素:波長(λ)、數(shù)值孔徑(NA)和工藝因子(k1)。它如同一座燈塔,為光刻技術(shù)的演進(jìn)指明了三個(gè)方向:縮短波長、增大數(shù)值孔徑以及降低工藝因子。


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然而,每一條路徑都伴隨著巨大的技術(shù)挑戰(zhàn)和成本投入。當(dāng)特征尺寸不斷逼近光源波長時(shí),光的衍射效應(yīng)愈發(fā)顯著,單純依賴物理參數(shù)的改進(jìn)已顯得力不從心。


工程的智慧:突破衍射極限的“組合拳"

國記者節(jié)

面對物理極限,光刻工程師們發(fā)展出了一系列精巧的解決方案——分辨率增強(qiáng)技術(shù)(RET),其核心思想在于通過優(yōu)化照明方式和掩模版圖形,主動地“管理"衍射光場。浸沒式光刻成為增大NA路徑上的一大創(chuàng)舉。通過在投影物鏡與晶圓之間填充高折射率液體,等效地將NA的天花板從1.0提升至1.44。這一技術(shù)極大地延長了193nm ArF光刻技術(shù)的生命周期。離軸照明(OAI)通過特殊設(shè)計(jì)的照明光闌,使光線以一定角度傾斜照射,改變衍射光的空間分布,使得更高頻率的衍射級次能夠進(jìn)入物鏡。

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離軸照明通過傾斜照明,改變了(a)中所示二元掩模的常規(guī)成像,導(dǎo)致(b)中所示的衍射圖案發(fā)生偏移

相移掩模(PSM)在控制光振幅的基礎(chǔ)上,引入相位控制,利用光波的干涉相消原理,在圖形邊緣形成更陡峭的光強(qiáng)梯度。


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相移掩模類型:(1)二元掩模,(2)相移掩模,(3)蝕刻石英掩模(萊文森掩模),(4)半色調(diào)掩模。(頂部)掩模,(紅色)掩模上的光能/相位,(藍(lán)色)晶圓上的光能/相位,(綠色)晶圓上的光功率,(底部)硅晶圓上的光刻膠

光學(xué)鄰近效應(yīng)修正(OPC)技術(shù)通過預(yù)先對掩模版圖形進(jìn)行“反畸變"處理,補(bǔ)償成像過程中的光學(xué)失真。


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一張OPC(光學(xué)鄰近校正)的示意圖。藍(lán)色的Γ形是芯片設(shè)計(jì)師希望印刷在晶圓上的形狀,綠色的是應(yīng)用光學(xué)鄰近校正后掩模上的圖案,紅色的輪廓是該形狀實(shí)際印刷在晶圓上的樣子(與期望的藍(lán)色目標(biāo)非常接近)

范式轉(zhuǎn)移:無掩模光刻的崛起

盡管RETs技術(shù)極大地推動了大規(guī)模集成電路制造的進(jìn)步,但它們高度依賴于物理掩模版。掩模版的制造不僅成本高昂,且制作周期長,成為研發(fā)和小批量生產(chǎn)的巨大障礙。無掩模光刻技術(shù)應(yīng)運(yùn)而生,摒棄了物理掩模,采用可實(shí)時(shí)編程的“數(shù)字掩模"來直接生成曝光圖案。基于數(shù)字微鏡器件(DMD)的無掩模光刻成為主流技術(shù)路徑之一。

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DMD圖像技術(shù)概述

DMD由數(shù)百萬個(gè)微米級的、可獨(dú)立高速翻轉(zhuǎn)的微型反射鏡組成。通過計(jì)算機(jī)精確控制每個(gè)微鏡的偏轉(zhuǎn)角度,就可以實(shí)時(shí)構(gòu)建出任意的二維光強(qiáng)分布圖形,實(shí)現(xiàn)“直寫"。這一從“物理模板"到“數(shù)字光場"的轉(zhuǎn)變,帶來了革命性優(yōu)勢:設(shè)計(jì)靈活性、顯著的成本效益以及強(qiáng)大的功能拓展性。DMD不僅能實(shí)現(xiàn)開/關(guān)二值調(diào)制,還能通過高速脈沖寬度調(diào)制實(shí)現(xiàn)多級灰度控制,輕松實(shí)現(xiàn)灰度光刻。

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澤攸科技ZML系列DMD無掩膜光刻機(jī)

以澤攸科技為代表的科學(xué)儀器制造商,通過桌面化的DMD無掩模光刻系統(tǒng),將這一技術(shù)推廣到了更廣泛的實(shí)驗(yàn)室和研發(fā)機(jī)構(gòu)。其ZML系列無掩模光刻機(jī)采用高功率LED光源,結(jié)合DMD技術(shù),實(shí)現(xiàn)亞微米級別分辨率,同時(shí)集成CCD相機(jī)和自動對焦系統(tǒng),大大降低了操作難度。


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在實(shí)際應(yīng)用中,這類設(shè)備已被用于二維材料器件的電極制備、微流控芯片的快速成型等前沿研究,展現(xiàn)了其在快速原型制造和多功能集成方面的潛力。

技術(shù)選擇的智慧


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對于追求線寬、大規(guī)模量產(chǎn)的半導(dǎo)體制造而言,以EUV為代表的傳統(tǒng)掩模光刻仍是不可替代的主流。然而,在科研、教育、封裝、MEMS、生物芯片等領(lǐng)域,對研發(fā)效率、成本控制和設(shè)計(jì)靈活性的要求往往超越了對極限分辨率的單一追求。


無掩模光刻技術(shù)通過將光刻過程從“重資產(chǎn)"模式轉(zhuǎn)變?yōu)椤拜p量化"數(shù)字流程,為工程師和科研人員提供了高效、經(jīng)濟(jì)且功能強(qiáng)大的新工具。它讓微納加工成為更多創(chuàng)新思想得以快速驗(yàn)證和實(shí)現(xiàn)的平臺。


技術(shù)的選擇并非簡單的優(yōu)劣之分,而是在深刻理解物理邊界和工程特性的基礎(chǔ)上,針對具體應(yīng)用需求所做出的最明智權(quán)衡。在限制與自由之間,我們看到的是一條從“遵循物理"到“駕馭物理"的清晰脈絡(luò)。



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