Sensofar LIN三維光學輪廓儀：功能解析

選擇測量設備需要在性能與預算之間取得平衡。Sensofar LIN系列白光干涉輪廓儀的設計理念，正是在保留核心功能的前提下，提供一種經濟實用的解決方案，讓更多用戶能夠接觸并使用白光干涉測量技術。

該產品的細節(jié)體現(xiàn)在其專注于核心測量功能。它提供了白光干涉模式，適用于從亞納米到毫米級別的臺階高度測量，以及針對光滑表面的形貌分析。這種技術對于微電子、光學元件和精密加工領域的許多常規(guī)檢測任務來說是適用的。

其性能滿足大部分日常檢測需求。它具有不錯的測量速度，能在較短時間內完成一個區(qū)域的掃描和三維重建。設備的穩(wěn)定性有助于保證測量數(shù)據(jù)的重復性和 reproducibility，這對于過程質量控制尤為重要。

用料方面，LIN系列在關鍵部件上并未妥協(xié)。它采用了高質量的LED光源，壽命長且發(fā)光穩(wěn)定；干涉物鏡經過專門設計和校正，以確保成像質量和測量精度；堅固的機械結構為掃描系統(tǒng)提供了穩(wěn)定的基礎。

LIN系列通常提供基礎型號，用戶可以根據(jù)未來的需求，考慮是否升級物鏡或軟件功能。這種靈活的配置方式為用戶提供了根據(jù)自身發(fā)展階段進行投資的可能性。

其用途主要面向工業(yè)界的質控環(huán)節(jié)。例如：

• PCB行業(yè)的焊膏厚度測量。

• 金屬加工表面的粗糙度評定。

• 小型光學元件的曲率半徑和面形分析。

• 材料涂層或鍍膜的厚度測量。

使用說明流程清晰。操作員經過基本培訓后，即可完成放置樣品、選擇測量點位、啟動自動測量、查看結果報告等一系列操作。軟件的自動化功能減少了人為干預，降低了操作難度和結果的不確定性。

對于尋求將三維表面測量技術引入其質量體系的中小型企業(yè)或教育機構，LIN系列展現(xiàn)出了其應用價值。

Sensofar LIN三維光學輪廓儀：功能解析