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Sensofar共聚焦干涉儀電子/科學(xué)/科研好幫手

產(chǎn)品簡介

Sensofar共聚焦干涉儀電子/科學(xué)/科研好幫手
電子行業(yè)中,芯片鍵合線、微型電容、柔性電路板等元件的精密檢測(cè),直接關(guān)系到產(chǎn)品性能,Sensofar S lynx2 的細(xì)微檢測(cè)能力,能適配這類小尺寸元件的質(zhì)量把控需求。

產(chǎn)品型號(hào):S lynx2
更新時(shí)間:2025-11-24
廠商性質(zhì):代理商
訪問量:36
詳細(xì)介紹在線留言

Sensofar共聚焦干涉儀電子/科學(xué)/科研好幫手


一、電子行業(yè):守護(hù)微型元件的品質(zhì)
電子行業(yè)中,芯片鍵合線、微型電容、柔性電路板等元件的精密檢測(cè),直接關(guān)系到產(chǎn)品性能,Sensofar S lynx2 的細(xì)微檢測(cè)能力,能適配這類小尺寸元件的質(zhì)量把控需求。
在芯片封裝環(huán)節(jié),鍵合線的狀態(tài)是關(guān)鍵 —— 直徑僅幾十微米的鍵合線,若出現(xiàn)弧度異常或表面劃痕,可能導(dǎo)致電路接觸不良。傳統(tǒng)設(shè)備難以清晰捕捉這類細(xì)節(jié),而 S lynx2 通過三維共聚焦技術(shù),可完整呈現(xiàn)鍵合線的 3D 形貌,清晰識(shí)別線體上的微小劃痕(甚至 0.1μm 級(jí)別的痕跡)與弧度偏差。檢測(cè)時(shí),軟件會(huì)自動(dòng)計(jì)算鍵合線的高度、跨度等參數(shù),與標(biāo)準(zhǔn)值對(duì)比后標(biāo)注異常區(qū)域,幫助質(zhì)檢人員快速篩選不合格芯片,減少后續(xù)產(chǎn)品故障風(fēng)險(xiǎn)。
針對(duì)柔性電路板檢測(cè),S lynx2 的非接觸測(cè)量方式能避免損傷電路板表面元件。檢測(cè)時(shí),設(shè)備可同時(shí)獲取電路板上元件的高度分布與焊點(diǎn)狀態(tài),比如判斷焊點(diǎn)是否存在虛焊(高度過低)或溢膠(高度過高),軟件生成的彩色高度圖能直觀呈現(xiàn)問題位置,不用人工逐點(diǎn)核對(duì),大幅提升檢測(cè)效率。搭配 “柔性樣品吸附臺(tái)" 附件,還能固定輕薄的電路板,避免檢測(cè)過程中樣品移位。
二、光學(xué)行業(yè):助力鏡片與薄膜的工藝優(yōu)化
光學(xué)行業(yè)對(duì)鏡片平整度、薄膜厚度均勻性的要求高,S lynx2 的穩(wěn)定性能與精細(xì)檢測(cè)能力,能為這類產(chǎn)品的研發(fā)與生產(chǎn)提供可靠支持。
在光學(xué)鏡片生產(chǎn)中,鏡片表面的粗糙度與平整度會(huì)影響透光率與成像效果。傳統(tǒng)設(shè)備檢測(cè)小尺寸鏡片(如手機(jī)鏡頭鏡片)時(shí),易因分辨率不足遺漏細(xì)微缺陷,而 S lynx2 可清晰捕捉鏡片表面 0.01μm 級(jí)別的凸起或凹陷,軟件自動(dòng)計(jì)算粗糙度參數(shù)(如 Ra 值),判斷是否符合光學(xué)標(biāo)準(zhǔn)。同時(shí),設(shè)備能檢測(cè)鏡片邊緣的倒角尺寸,避免因邊緣打磨不當(dāng)影響裝配,為鏡片生產(chǎn)工藝調(diào)整提供數(shù)據(jù)參考。
針對(duì)光學(xué)薄膜(如增透膜、濾光膜),S lynx2 的 “分層檢測(cè)功能" 可精準(zhǔn)測(cè)量薄膜厚度與均勻性。檢測(cè)幾微米厚的薄膜時(shí),設(shè)備無需損壞樣品,就能獲取不同區(qū)域的厚度數(shù)據(jù),生成厚度分布曲線,標(biāo)注厚度偏差較大的區(qū)域。比如檢測(cè)光伏玻璃表面的增透膜時(shí),可快速定位厚度不均的區(qū)域,幫助技術(shù)人員調(diào)整薄膜沉積工藝,提升光伏組件的透光效率。
三、科研領(lǐng)域:支撐微小樣品的深度研究
在材料科學(xué)、生物醫(yī)學(xué)等科研領(lǐng)域,常需要研究微小樣品(如納米材料、生物組織切片)的表面結(jié)構(gòu),S lynx2 的精細(xì)檢測(cè)能力與靈活適配性,能滿足這類研究需求。
在納米材料研究中,S lynx2 可檢測(cè)納米涂層的厚度與表面形貌,幫助科研人員分析涂層的均勻性與附著狀態(tài)。比如研究金屬表面的納米防腐涂層時(shí),設(shè)備能清晰呈現(xiàn)涂層表面的顆粒分布與微小孔隙,為涂層制備工藝優(yōu)化提供依據(jù)。搭配 “高倍物鏡" 附件,還能進(jìn)一步放大觀察納米級(jí)別的細(xì)微結(jié)構(gòu),獲取更精準(zhǔn)的研究數(shù)據(jù)。
針對(duì)生物組織切片檢測(cè),S lynx2 的非接觸測(cè)量方式能避免損傷脆弱的組織樣品。比如檢測(cè)皮膚組織切片的表面粗糙度時(shí),設(shè)備可在不破壞樣品的前提下,獲取切片表面的 3D 形貌數(shù)據(jù),分析組織的微觀結(jié)構(gòu)變化,為醫(yī)學(xué)研究提供支持。軟件還支持 “數(shù)據(jù)時(shí)間序列分析",可對(duì)比不同實(shí)驗(yàn)階段的樣品數(shù)據(jù),觀察組織結(jié)構(gòu)隨時(shí)間的變化規(guī)律,不用反復(fù)制備新樣品,節(jié)省研究成本。
四、行業(yè)適配附件與使用建議
為更好適配不同行業(yè)需求,S lynx2 提供三類核心附件:
  1. 電子行業(yè)專用夾具:適配芯片、電容等微型元件,確保檢測(cè)時(shí)樣品穩(wěn)定,避免移位;

  1. 光學(xué)行業(yè)校準(zhǔn)片:用于定期校準(zhǔn)設(shè)備檢測(cè)精度,保證鏡片、薄膜檢測(cè)數(shù)據(jù)的可靠性;

  1. 科研領(lǐng)域高倍物鏡:放大倍數(shù)可達(dá) 100 倍,滿足納米材料、生物組織的精細(xì)觀察需求。

使用建議:
  • 電子行業(yè)檢測(cè)前,需用無塵布輕輕擦拭元件表面,避免灰塵影響成像;

  • 光學(xué)行業(yè)檢測(cè)鏡片時(shí),建議在軟件中選擇 “光學(xué)樣品模式",系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)匹配合適的檢測(cè)參數(shù);

  • 科研領(lǐng)域研究易氧化樣品時(shí),可搭配 “惰性氣體保護(hù)罩" 附件,防止樣品檢測(cè)過程中氧化。

從電子行業(yè)的元件質(zhì)檢,到光學(xué)行業(yè)的工藝優(yōu)化,再到科研領(lǐng)域的深度研究,Sensofar S lynx2 都能通過精細(xì)的檢測(cè)能力與靈活適配性,解決不同領(lǐng)域的精密檢測(cè)痛點(diǎn),成為各行業(yè)生產(chǎn)與研究環(huán)節(jié)的實(shí)用工具。

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