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澤攸臺式電鏡如何實現高分辨與低損傷平衡?

產品簡介

澤攸臺式電鏡如何實現高分辨與低損傷平衡?掃描電子顯微鏡的成像質量與樣品損傷是一對永恒矛盾：高加速電壓（如30kV）可提升分辨率，但易導致不導電樣品荷電、有機樣品灼燒；低加速電壓（如5kV）減少損傷，卻可能因電子束穿透力不足導致圖像模糊。澤攸ZEM15通過“多模式電子光學系統"設計，實現了高分辨與低損傷的動態平衡。

產品型號：ZEM15
更新時間：2025-10-28
廠商性質：代理商
訪問量：81
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澤攸臺式電鏡如何實現高分辨與低損傷平衡

掃描電子顯微鏡的成像質量與樣品損傷是一對永恒矛盾：高加速電壓（如30kV）可提升分辨率，但易導致不導電樣品荷電、有機樣品灼燒；低加速電壓（如5kV）減少損傷，卻可能因電子束穿透力不足導致圖像模糊。澤攸ZEM15通過“多模式電子光學系統"設計，實現了高分辨與低損傷的動態平衡。
ZEM15的電子槍采用熱場發射源，束流穩定性≤1%/h（傳統鎢燈絲槍≥5%/h），配合電磁透鏡組的高精度聚焦，即使在5kV低電壓下，仍能保持2nm的分辨率（優于多數臺式電鏡的5nm指標）。這一特性對生物樣品至關重要——某醫學院用其觀察神經元突觸結構，5kV電壓下未觀察到明顯的樣品損傷（傳統電鏡需10kV以上，導致突觸小泡破裂），成功捕捉到突觸后膜受體蛋白的分布細節。
設備搭載“自適應束流調節"功能，可根據樣品導電性自動調整束流密度。觀察高導電金屬樣品時，束流提升至1nA，增強二次電子信號強度，提升圖像信噪比；觀察低導電聚合物時，束流降至0.1nA，減少電荷積累。某高分子材料實驗室測試顯示，用ZEM15觀察PMMA（聚甲基丙烯酸甲酯）薄膜，5kV電壓下連續成像2小時，未出現荷電導致的圖像漂移，而傳統電鏡在相同條件下15分鐘即出現明顯模糊。
此外，ZEM15配備二次電子探測器（SE）和背散射電子探測器（BSE）雙檢測系統。SE探測器對表面形貌敏感，適合觀察納米顆粒的分散狀態；BSE探測器對成分差異敏感，可區分合金中的第二相顆粒。某金屬材料研究所用其分析鋁合金中的Mg?Si析出相，通過BSE圖像的襯度差異，快速定位析出相分布，結合EDS能譜（可選配），完成成分-形貌-分布的關聯分析。
ZEM15的低電壓成像技術突破了傳統臺式電鏡的性能邊界，使其在高分辨觀察與樣品保護之間找到了優解，尤其適用于生物、高分子、有機材料等敏感樣品的研究。澤攸臺式電鏡如何實現高分辨與低損傷平衡

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