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PRODUCTS CNTER
產品簡介
白光干涉儀S neox的非接觸測量優勢:Sensofar S neox以非接觸光學測量技術，無損表征柔軟、易損或高潔凈樣品的三維形貌，避免劃傷與形變，確保數據真實，適用于精密材料與生物醫學領域。
產品分類
在測量精密、柔軟、易損傷或潔凈度要求高的樣品時，接觸式測量方法可能存在局限性。探針與樣品表面的物理接觸，存在劃傷樣品表面或導致探針磨損的風險，且測量力可能使柔軟樣品發生形變，影響結果的真實性。Sensofar S neox 3D光學輪廓儀采用光學原理進行測量，其非接觸的特性在這些場景下展現出其應用意義。
非接觸測量的核心優勢在于避免了與樣品表面的任何物理相互作用。這意味著：
1.無損檢測：不會在樣品表面留下劃痕或壓痕，這對于成品檢驗、珍貴樣品（如考古文物、生物標本）分析、以及需要后續工藝處理的在制品檢測尤為重要。
2.真實反映柔軟表面形貌：對于聚合物、水凝膠、生物組織等柔軟材料，接觸式測針的壓力可能導致表面凹陷，測得的高度值低于真實值。光學測量則能捕獲其不受外力影響的狀態。
3.適用于潔凈環境：沒有機械接觸，避免了因摩擦產生的顆粒污染，符合半導體、光學元件等對潔凈度有嚴格要求的行業標準。
S neox通過白光干涉和共聚焦等技術實現非接觸測量。它利用光線作為“探針"，通過分析從樣品表面反射回來的光信號來重建三維形貌。整個測量過程對樣品本身沒有施加任何力。
此外，非接觸測量通常意味著更快的測量速度。特別是對于三維面測量，S neox可以快速獲取一個區域內的所有數據點，而接觸式輪廓儀需要進行逐點、逐線的掃描。