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產品中心
PRODUCTS CNTER
產品簡介
白光干涉儀S neox的微透鏡陣列表征:Sensofar S neox可對微透鏡陣列進行高精度三維形貌測量，精確量化面形、曲率、矢高及陣列均勻性，為光學性能評估與工藝優化提供關鍵數據支撐。
產品分類
•面形分析：可以評估每個微透鏡的實際面形與設計面形（如球形、非球面）的偏差，計算面形誤差。
•曲率半徑與焦距：通過擬合透鏡表面的三維數據，可以精確計算其曲率半徑，進而推算焦距。
•矢高：精確測量透鏡頂點與邊緣的高度差。
•陣列均勻性：可以批量測量陣列中多個透鏡的口徑、矢高等參數，計算其均勻性，評估制造工藝的一致性。
S neox的大面積拼接功能允許測量超過單個視場的大型微透鏡陣列。其高垂直分辨率能夠精確分辨納米級的面形誤差。對于透明材質的微透鏡，可以使用共聚焦模式或啟用透明材料校正算法。