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三維光學(xué)輪廓儀
布魯克
ContourX-500布魯克測量系統(tǒng)




產(chǎn)品簡介
ContourX-500布魯克測量系統(tǒng)三維測量在許多技術(shù)領(lǐng)域都是必要的。ContourX-500布魯克系列產(chǎn)品通過白光干涉技術(shù),為表面三維測量提供了系統(tǒng)方案,在工程應(yīng)用中發(fā)揮作用。
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ContourX-500布魯克測量系統(tǒng)
在工程技術(shù)領(lǐng)域,對表面形貌的精確測量始終是一項關(guān)鍵且持續(xù)的需求。無論是產(chǎn)品開發(fā)階段對性能的嚴(yán)謹(jǐn)驗證,還是生產(chǎn)過程中對質(zhì)量的嚴(yán)格把控,準(zhǔn)確的三維表面數(shù)據(jù)都如同精準(zhǔn)的導(dǎo)航,為各個環(huán)節(jié)提供著參考依據(jù)。ContourX - 500布魯克測量系統(tǒng)憑借其獨(dú)特的技術(shù)特點(diǎn),為滿足這類測量需求提供了強(qiáng)大而可靠的支持。
測量原理奠定精準(zhǔn)基礎(chǔ)
ContourX - 500布魯克測量系統(tǒng)采用了白光干涉測量方法,這一方法巧妙地融合了光學(xué)測量的諸多優(yōu)勢。在工作流程中,寬光譜光源發(fā)出的光,如同精密的使者,經(jīng)過分光系統(tǒng)后兵分兩路。一部分光如同勇敢的探險家,徑直照射到待測樣品表面,在那里與樣品表面進(jìn)行親密“接觸"后反射回來;另一部分光則作為穩(wěn)定的參考光,按既定路徑前行后反射。這兩部分反射光如同久別重逢的伙伴,重新合并時便會產(chǎn)生干涉現(xiàn)象。系統(tǒng)通過垂直掃描這一精細(xì)動作,如同一位技藝高超的雕刻家,對每一個測量點(diǎn)進(jìn)行細(xì)致入微的探測,再結(jié)合信號分析技術(shù),精準(zhǔn)地確定每個測量點(diǎn)的高度值。這種方法不僅繼承了光學(xué)測量非接觸的優(yōu)良特性,避免了因接觸而對樣品表面造成潛在損傷,同時還具備相對較高的測量精度,為獲取準(zhǔn)確的表面形貌數(shù)據(jù)提供了堅實保障。
廣泛實際應(yīng)用彰顯系統(tǒng)價值
該系統(tǒng)的實際應(yīng)用范圍極為廣泛,猶如一把 ,打開了多個領(lǐng)域表面測量的大門。在航空航天領(lǐng)域,渦輪葉片表面的冷卻孔形貌堪稱關(guān)鍵因素,其細(xì)微變化都會對冷卻效果產(chǎn)生顯著影響。ContourX - 500布魯克測量系統(tǒng)憑借其高精度測量能力,能夠?qū)@些冷卻孔形貌進(jìn)行精確測量分析,為優(yōu)化渦輪葉片設(shè)計、提升發(fā)動機(jī)性能提供有力數(shù)據(jù)支持。在能源裝備制造領(lǐng)域,關(guān)鍵摩擦副表面的紋理結(jié)構(gòu)如同神秘的密碼,直接影響著密封性能。使用該系統(tǒng),能夠輕松獲取這些表面的三維數(shù)據(jù),如同解開密碼一般,幫助工程師深入了解摩擦副表面特性,進(jìn)而優(yōu)化設(shè)計,提高能源裝備的可靠性和效率。
與傳統(tǒng)的單一點(diǎn)測量或線測量方式相比,ContourX - 500布魯克測量系統(tǒng)實現(xiàn)了質(zhì)的飛躍,它能夠?qū)崿F(xiàn)面的三維測量。這意味著在一次測量過程中,如同給整個測量區(qū)域拍攝了一張高精度的“立體照片",可以一次性獲取整個區(qū)域的高度信息,數(shù)據(jù)更加全面、豐富。這種全面的數(shù)據(jù)獲取方式,為深入分析表面形貌特征提供了更多可能。同時,其非接觸的測量方式,使得它能夠輕松應(yīng)用于那些不適合接觸測量的場合,如柔軟材料表面、易損壞樣品表面等,大大拓展了測量系統(tǒng)的應(yīng)用范圍。此外,系統(tǒng)軟件通常配備了多種強(qiáng)大的分析工具,如同一個裝滿各種工具的百寶箱,可以根據(jù)不同的應(yīng)用需求,對測量數(shù)據(jù)進(jìn)行靈活多樣的處理,滿足各種復(fù)雜的分析要求。
在工程項目實施的不同階段,ContourX - 500布魯克測量系統(tǒng)都能發(fā)揮重要作用。在設(shè)計驗證階段,它如同一位嚴(yán)格的檢驗員,通過對原型樣品的精確測量,為設(shè)計效果提供客觀、準(zhǔn)確的評估,幫助設(shè)計師及時發(fā)現(xiàn)設(shè)計中的不足之處并加以改進(jìn)。在工藝調(diào)試階段,它又化身為工藝優(yōu)化的得力助手,通過對試制品的測量分析,為工藝參數(shù)的調(diào)整提供數(shù)據(jù)依據(jù),助力工藝不斷優(yōu)化,提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。在質(zhì)量驗收階段,它則成為質(zhì)量把關(guān)的忠誠衛(wèi)士,通過對成品的嚴(yán)格測量,評估產(chǎn)品是否達(dá)到技術(shù)要求,確保每一件出廠產(chǎn)品都符合質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。
使用ContourX - 500布魯克測量系統(tǒng)時,一些操作要點(diǎn)不容忽視。測量前的樣品準(zhǔn)備是保證測量質(zhì)量的基礎(chǔ),如同建造高樓大廈前打好堅實的地基。樣品表面必須保持清潔,避免灰塵、油污等雜質(zhì)影響測量結(jié)果;同時,樣品要適當(dāng)固定,防止在測量過程中發(fā)生移動或振動。測量參數(shù)的設(shè)置如同烹飪時對火候和調(diào)料的精準(zhǔn)把控,要根據(jù)樣品的具體情況,如材料、表面粗糙度等,進(jìn)行合理調(diào)整,以達(dá)到 測量效果。測量環(huán)境的管理也至關(guān)重要,穩(wěn)定的溫度和良好的隔振條件,如同為測量系統(tǒng)創(chuàng)造了一個安靜、舒適的“工作空間",有助于獲得可靠、準(zhǔn)確的測量數(shù)據(jù)。
隨著測量技術(shù)的不斷進(jìn)步,ContourX - 500布魯克測量系統(tǒng)也在持續(xù)發(fā)展。系統(tǒng)集成度的提高、操作界面的優(yōu)化、數(shù)據(jù)分析算法的改進(jìn),都是其未來值得關(guān)注的發(fā)展方向。相信在未來,它將提供更豐富的功能和更好的用戶體驗,在更多項目中發(fā)揮重要作用,為工程技術(shù)領(lǐng)域的發(fā)展貢獻(xiàn)更大力量。
ContourX-500布魯克測量系統(tǒng)
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